Prob olarak da bilinen test pimi, hassas elektrik testlerinde önemli bir bileşendir. Elektronik devre araştırması ve üretimi sürecinde sinyal bağlantısını ve kalitesini test etmek ve analiz etmek sıklıkla gereklidir. Şu anda, sinyali hasarsız bir şekilde çıkarmak ve kapsamlı analiz için ilgili ICT'ye veya test sistemine sağlamak için hassas test pinleri kullanılıyor. Test pininin kalitesi testin doğruluğunu ve tekrarlanabilirliğini büyük ölçüde etkiler. Uygulama alanına göre, test pinleri geleneksel ICT problarına, yarı iletken test problarına, RF yüksek frekanslı test problarına, yüksek akım problarına ve akü temas problarına ayrılır. Probun yapısına göre geleneksel tek kafalı yaylı pimlere, çift kafalı BGA test pimlerine ve iğne kovanı adaptörü çift kafalı pimlere de ayrılabilir. Prob seçiminin erken aşamasında, test pimlerinin aralığı, test edilen nesne için uygun kafa tipi, akım taşıma kapasitesi, hareket stroku ve gerekli yay kuvveti dahil olmak üzere birçok önemli parametrenin dikkate alınması gerekir.

中文简体

Ana Sayfa Ürünler BS 1363-1 Şekil Test Pimi

BS 1363-1 Şekil Test Pimi

Ürün No: SMT-BS01

Mesaj bırakın

Açıklama

Test pimi çapı: Φ1 mm
Pim parmak uzunluğunu test edin: 20 mm
Referans standardı: BS1363-1 şekil 1

BS 1363-1'in Test Pimi Şekil
Etiketler:BS 1363 , SMT-BS01